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HPS2663精密四探针测试仪

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产品名称: HPS2663精密四探针测试仪
产品型号: HPS-2663
产品展商: 常州海尔帕
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简单介绍

HPS2663精密四探针测试仪 可根据不同材料特性需要,有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜(ITO膜)、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。


HPS2663精密四探针测试仪 的详细介绍

HPS2663精密四探针测试仪

HPS2663精密四探针测试仪,可根据不同材料特性需要,有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜(ITO膜)、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。

性能特点

v超大液晶人性化操作界面

v多种测量参数可选

v测量数据自动保持功能

v超快测量并显示读数

v量程有自动和手动双模式

v档号显示及档计数功能

v兼容多种材料测量

v专业的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制v

应用

l硅类半导体材料

l柔性材料导电薄膜、金属镀层、ITO膜或纳米涂层

l金属化薄膜电容器、导电塑料

技术参数

产品型号

HPS2663

性能指标

显示器

高清LCD液晶显示

显示位数

5位

测量范围和精度

电阻率

10µΩ・cm20MΩ・cm

方块电阻

10µΩ/□ -20MΩ/

直流电阻

10µΩ-20MΩ

精度

电阻率、方阻:4%;电阻:0.1%

测量功能

量程方式

自动,手动

测量速度

快速: 6/秒,中速: 2/秒,慢速: 2/

触发方式

内部,手动,外部

校正功能

专用治具短路清零

测量端

四线制(2个检测端和2个驱动端)5

分选和接口

分选功能

内建比较器:合格、上超和下超

讯响

OFF,IN,HI,LO(音量可调)

接口配置

RS-232C接口/HANDLER/

一般规格

操作环境

0°C -40°C,≤90%RH

电源要求

198V -242V(AC),47.5Hz63Hz

功耗

30 VA

尺寸

335 mm(宽) x 120 mm() x 320 mm()

重量

2kg

标配附件

• AC电源线

用户手册

测试报告

保修卡和合格证

• HPS58006四探针测试探头

选配附件

通讯线缆

• HPS58002四探针测试探头

专用配套测试台

软件光盘(上位机数据采集软件)

• USB转RS232通用串口线(1.8米)

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