PXle插卡式源表S2012C

联讯仪器全新推出 PXIe 精密电源/测量单元 S2012C。其*小测量分辨率达10fA/100nV，输出电压高达±200V。进一步拓展了PXIe源表的应用场景，工程师可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 来测量低电流信号，同时PXIe SMU 的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性可实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等多种应用。

1、高精度

S2012C 分辨率高达10fA/100nV，电压精度100μV，电流精度10pA ，可用于测量微小的泄漏电流等应用场合，泄漏电流通常在pA级别，S2012C搭配3同轴测量端子，用于nA级以下小电流测试。

2、Adaptive PFC系统

用户可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系统，用户可根据负载特性，调整相关参数，获得更**，快速的输出特性。

3、高速测量

S2012C *高可支持1M的采样率，NPLC和采样率可根据需要设定，以满足高速高精度的测量场景。

4、构建多通道并行测试系统

基于PXIe的模块化架构便于构建紧凑的并行多通道测试系统，可扩展至数百个通道来满足晶圆级可靠性和并行测试需求。

5、直流I-V输出能力

6、脉冲I-V输出能力

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